插頭插座低溫沖擊試驗(yàn)裝置直銷(xiāo)如果試驗(yàn)設(shè)備已預(yù)冷，并且試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度，則允許縮短冷卻時(shí)間，但不得少于1h如果有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中有規(guī)定，也適用于無(wú)護(hù)套的電線(xiàn)、軟線(xiàn)和扁平軟線(xiàn)的聚錄乙烯絕緣

KTR006插頭插座低溫沖擊試驗(yàn)裝置直銷(xiāo)
一、概述
插頭插座低溫沖擊試驗(yàn)裝置直銷(xiāo)，適用用于考核電線(xiàn)電纜附件在低溫情況下的耐沖擊性能，與低溫箱配套使用。符合GB2951.14-2008、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。
1、低溫沖擊高度：100mm
2、砝碼：100、200、300、400、500、600、750、1000、1250、1500g
3、本系列裝置全為不銹鋼制作
二、插頭插座低溫沖擊試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法
1、概述
聚錄乙烯絕緣和護(hù)套低溫沖擊試驗(yàn)適用于各種聚錄乙烯護(hù)套電纜，而與絕緣線(xiàn)芯的絕緣類(lèi)型無(wú)關(guān)。如果有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中有規(guī)定，也適用于無(wú)護(hù)套的電線(xiàn)、軟線(xiàn)和扁平軟線(xiàn)的聚錄乙烯絕緣。
護(hù)套電纜的聚錄乙烯不直接進(jìn)行低溫沖擊試驗(yàn)。
2、取樣和試樣制備
取三個(gè)成品電纜試樣，每個(gè)試樣長(zhǎng)度至少應(yīng)是電纜直徑的5倍，zui短150mm。應(yīng)去除所有外護(hù)層。
3、試驗(yàn)設(shè)備
本試驗(yàn)用設(shè)備如圖2及注釋。
設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上，試驗(yàn)前和試驗(yàn)期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)。
三、試驗(yàn)條件
對(duì)于固定敷設(shè)的電纜試樣，試驗(yàn)用落錘重量應(yīng)按下表的規(guī)定：
試樣外徑D/mm落錘重（質(zhì)）量/g
D≤4.0100
4.0＜D≤6.0200
6.0＜D≤9.0300
9.0＜D≤12.5400
12.5＜D≤20.0500
20.0＜D≤30.0750
30.0＜D≤50.01000
50.0＜D≤75.01250
75.0＜D1500
插頭插座低溫沖擊試驗(yàn)裝置對(duì)軟電纜、軟線(xiàn)和通信電纜的試樣，試驗(yàn)用落錘質(zhì)（重）量應(yīng)按下表的規(guī)定：
試樣外徑D/mm落錘重（質(zhì)）量/g
對(duì)于扁平軟線(xiàn)100
D≤6100
6.0＜D≤10.0200
10.0＜D≤15.0300
15.0＜D≤25.0400
25.0＜D≤35.0500
35.0＜D600
四、試驗(yàn)步驟
試驗(yàn)設(shè)備和被試電纜試樣應(yīng)并排放在低溫箱中保持在規(guī)定溫度下冷卻至少16h，其中包括試驗(yàn)設(shè)備的冷卻時(shí)間。如果試驗(yàn)設(shè)備已預(yù)冷，并且試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫試，則允許縮短冷卻時(shí)間，但不得少于1h。
規(guī)定的冷卻時(shí)間結(jié)束后，每個(gè)試樣應(yīng)依次放在圖2所示的位置上，落錘應(yīng)從100mm高處落下。
試驗(yàn)后使試樣恢復(fù)到接近室溫，然后檢查無(wú)護(hù)套電纜或軟線(xiàn)的絕緣。
使試樣保持平直，將試樣以每100mm扭轉(zhuǎn)360º進(jìn)行扭絞，然后對(duì)絕緣進(jìn)行檢查。若絕緣試樣不能這樣扭絞，則按護(hù)套的規(guī)定進(jìn)行檢查。
檢驗(yàn)電纜或軟線(xiàn)護(hù)套前，應(yīng)先使其恢復(fù)到接近室溫后浸入熱水，然后再沿著電纜軸向?qū)⒆o(hù)套切開(kāi)。（40～50º的熱水是合適的）
檢查護(hù)套和絕緣的內(nèi)、外表面。護(hù)套電纜或軟線(xiàn)的絕緣只檢查外表面。

取三個(gè)成品電纜試樣，每個(gè)試樣長(zhǎng)度至少應(yīng)是電纜直徑的5倍，zui短150mm；應(yīng)去除所有外護(hù)層設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上，試驗(yàn)前和試驗(yàn)期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)